अवलोकन
इंसुलेशन परीक्षण की एक आवश्यक विधि के रूप में, परावैद्युत हानि मापन विद्युत उपकरणों के इंसुलेशन में समग्र नमी, क्षरण, उम्र बढ़ने और स्थानीय दोषों का प्रभावी ढंग से पता लगाता है और विद्युत उपकरणों के निर्माण प्रक्रिया, स्थापना चरण, हैंडओवर परीक्षण प्रक्रिया और निवारक रखरखाव में व्यापक रूप से उपयोग किया जाता है। उदाहरण के लिए, ट्रांसफार्मर, इंडक्टर, रिएक्टर, कैपेसिटर, बुशिंग, सर्ज अरेस्टर और अन्य उपकरणों के लिए, उनके इंसुलेशन प्रदर्शन का आकलन करने की कुंजी परावैद्युत हानि मापन में निहित है। हमारा टैन डेल्टा परीक्षण सेट पारंपरिक ब्रिज मापन पद्धति को तोड़ता है, उन्नत इन्वर्टर पावर सप्लाई तकनीक, माइक्रोकंट्रोलर और आधुनिक इलेक्ट्रॉनिक तकनीक के संयोजन से स्वचालित स्विचिंग आवृत्ति, एनालॉग और डिजिटल डेटा रूपांतरण और कुशल डेटा प्रोसेसिंग प्रक्रिया प्राप्त करता है। इसमें मजबूत हस्तक्षेप-रोधी क्षमता, तीव्र परीक्षण गति और उच्च मापन सटीकता है, साथ ही पूरी तरह से स्वचालित डिजिटल संचालन मोड है और इसे शुरू करना आसान है। इसकी पावर सप्लाई प्रणाली एक उच्च-शक्ति स्विचिंग पावर सप्लाई का उपयोग करती है, जो 45Hz और 55Hz के शुद्ध साइनसोइडल वोल्टेज आउटपुट करने में सक्षम है, 10kV की वोल्टेज सीमा के साथ स्वचालित बूस्ट फ़ंक्शन का समर्थन करती है और 50Hz हस्तक्षेप संकेतों को स्वचालित रूप से शील्ड करती है। यह व्रिंडू परीक्षक विशेष रूप से उन सबस्टेशनों के लिए उपयुक्त है जहां विद्युत चुम्बकीय हस्तक्षेप का वातावरण जटिल होता है। विद्युत ऊर्जा उद्योग में, यह ट्रांसफार्मर, बुशिंग, कैपेसिटर, सर्ज अरेस्टर और अन्य उपकरणों के डाइइलेक्ट्रिक लॉस मापन के लिए एक विश्वसनीय इन्सुलेशन प्रदर्शन परीक्षण उपकरण है, जिसका व्यापक उपयोग होता है।
विशेषता
- 1. यह उपकरण धारिता, परावैद्युत हानि और अन्य मापदंडों को सटीक रूप से मापने के लिए फोरियर ट्रांसफॉर्म डिजिटल फ़िल्टरिंग तकनीक का उपयोग करता है। परीक्षण परिणाम अत्यधिक सटीक होते हैं, जिससे स्वचालित मापन को आसानी से साकार किया जा सकता है।
- 2. यह 50Hz औद्योगिक आवृत्ति के हस्तक्षेप को दूर करने के लिए आवृत्ति रूपांतरण तकनीक का उपयोग करता है, जिससे तीव्र विद्युत चुम्बकीय हस्तक्षेप वाले वातावरण में भी विश्वसनीय मापन डेटा प्राप्त किया जा सकता है। 3. इस उपकरण में एक बड़ा फुल-टच एलसीडी डिस्प्ले है, जिससे स्वचालित मापन करना आसान हो जाता है।
- 3. इसमें फुल-टच वाला बड़ा लिक्विड क्रिस्टल डिस्प्ले (एलसीडी) इस्तेमाल किया गया है, जो सरल और सहज है। फुल-टच एलसीडी एक बड़ा, संपूर्ण ग्राफिकल ऑपरेशन इंटरफेस प्रदान करता है, और प्रत्येक चरण स्पष्ट रूप से दिखाई देता है, जिससे ऑपरेटर बिना किसी अतिरिक्त पेशेवर प्रशिक्षण के इसका उपयोग कर सकता है। माप और पूरी प्रक्रिया एक ही स्पर्श से पूरी की जा सकती है।
- 4. अंतर्निर्मित कैलेंडर चिप और उच्च क्षमता वाली मेमोरी की मदद से परीक्षा परिणाम सहेजे जा सकते हैं, इतिहास को कभी भी देखा जा सकता है और प्रिंटआउट की सुविधा भी उपलब्ध है। वर्तमान और संग्रहित समय को किसी भी समय प्रदर्शित और प्रिंट किया जा सकता है।
- 5. वैज्ञानिक और उन्नत डेटा प्रबंधन: उपकरण डेटा को यू डिस्क के माध्यम से निर्यात किया जा सकता है, और किसी भी पीसी पर विशेष सॉफ़्टवेयर द्वारा इसे देखा और प्रबंधित किया जा सकता है।
- 6. टैन डेल्टा टेस्ट सेट का संचालन आसान है, और एक माइक्रोप्रोसेसर माप प्रक्रिया को नियंत्रित करता है। उपयुक्त माप विधि का चयन करें, और माइक्रोप्रोसेसर नियंत्रण के तहत डेटा माप स्वचालित रूप से पूरा हो जाएगा।
- 7. एकीकृत डिजाइन, अंतर्निर्मित मानक कैपेसिटर और उच्च-वोल्टेज बिजली आपूर्ति से फील्ड टेस्टिंग आसान हो जाती है और फील्ड वायरिंग का काम कम हो जाता है।
- 8. रिवर्स कनेक्शन लो-वोल्टेज शील्डिंग फ़ंक्शन का उपयोग 220kV CVT बस ग्राउंडिंग स्थितियों, C11 में, लाइन 10kV रिवर्स कनेक्शन डाइइलेक्ट्रिक लॉस माप को हटाए बिना किया जा सकता है।
- 9. एसी विदस्टैंड वोल्टेज परीक्षण करने में सक्षम, पीटी और सीटी सेकेंडरी एसी विदस्टैंड वोल्टेज परीक्षण के साथ-साथ 400V लो वोल्टेज सिस्टम विदस्टैंड वोल्टेज परीक्षण के लिए उपयुक्त।
- 10. बाहरी उच्च-वोल्टेज बिजली आपूर्ति आवृत्ति (40Hz~70Hz) की पहचान करने में सक्षम, उच्च क्षमता वाले उच्च-वोल्टेज परावैद्युत हानि परीक्षण के लिए औद्योगिक आवृत्ति या श्रृंखला अनुनाद बिजली आपूर्ति की अनुमति देता है।
- 11. सीवीटी परीक्षण फ़ंक्शन के साथ, सीवीटी परीक्षण की स्व-उत्तेजना विधि को साकार किया जा सकता है और व्यक्तिगत और उपकरण सुरक्षा सुनिश्चित करने के लिए उच्च वोल्टेज/करंट, निम्न वोल्टेज/करंट और चार सुरक्षा सीमाएँ निर्धारित की जा सकती हैं।
- 12. सी.वी.टी. का परीक्षण करते समय, यह स्वचालित रूप से सी1 और सी2 के धारिता मान और परावैद्युत हानि मान तथा सी.वी.टी. उपकरण के कुल धारिता और परावैद्युत हानि मान का परीक्षण कर सकता है।
- 13. थर्मल प्रिंटर से सुसज्जित, जो परीक्षण परिणाम प्रिंट कर सकता है, और कैलेंडर घड़ी फ़ंक्शन से सुसज्जित, जो उपयोगकर्ताओं के लिए परीक्षण रिपोर्ट जारी करने में सुविधाजनक है। यू डिस्क आउटपुट डेटा का समर्थन करता है। 14.
- 14. ग्राउंडिंग सुरक्षा फ़ंक्शन के साथ, जब टैन डेल्टा टेस्ट सेट ग्राउंडेड नहीं होता है या ग्राउंडिंग खराब होती है, तो यह नियमित प्रोग्राम में प्रवेश नहीं करता है या उच्च वोल्टेज आउटपुट नहीं देता है। ओवर-करंट सुरक्षा फ़ंक्शन नमूने के शॉर्ट-सर्किट होने या टूटने पर उपकरण को क्षति से बचा सकता है। 15.
- 15. विद्युत झटके से सुरक्षा फ़ंक्शन के साथ, जब ऑपरेटर को गलती से बिजली का झटका लगता है, तो उपकरण परीक्षण कर्मियों की सुरक्षा के लिए उच्च वोल्टेज को तुरंत काट देता है।
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सामान्य प्रश्न
प्रश्न: टैन डेल्टा परीक्षण की स्वीकार्य सीमा क्या है?
ए: टैन डेल्टा परीक्षण के लिए स्वीकार्य सीमाएँ अनुप्रयोग, उपकरण के प्रकार और उद्योग मानकों के आधार पर भिन्न होती हैं। विशिष्ट संख्यात्मक सीमाएँ, जैसे कि 0.1 से कम, मानकों या निर्माता की अनुशंसाओं में उल्लिखित हो सकती हैं। स्वीकार्य सीमाओं का निर्धारण करने के लिए, संबंधित मानकों और निर्माता के दस्तावेज़ों से परामर्श लें।
प्रश्न: टैन डेल्टा परीक्षण का मान क्या होना चाहिए?
ए: परीक्षण में टैन डेल्टा का स्वीकार्य मान अनुप्रयोग, उपकरण के प्रकार और उद्योग मानकों के आधार पर भिन्न होता है। कम मान बेहतर इन्सुलेशन और कम नुकसान को दर्शाता है। विशिष्ट सीमाएँ भिन्न होती हैं; उदाहरण के लिए, कुछ मामलों में 0.1 से कम मान स्वीकार्य हो सकता है। मानदंड अनुप्रयोग और मानकों पर निर्भर करते हैं, इसलिए मूल्यांकन के लिए दिशा-निर्देशों का संदर्भ लें।
प्रश्न: क्षय गुणांक से क्या तात्पर्य है?
ए: क्षय गुणांक, जिसे tan डेल्टा (tanδ) से दर्शाया जाता है, एक आयामहीन पैरामीटर है जिसे विद्युत प्रणाली की प्रतिबाधा (Z) में प्रतिरोधक घटक (R) और संधारित्र घटक (C) के अनुपात के रूप में व्यक्त किया जाता है। गणितीय रूप से, इसे tanδ = R/C द्वारा दर्शाया जाता है। यह अनुपात विद्युत ऊर्जा के भंडारण और उत्सर्जन में प्रणाली की दक्षता को दर्शाता है, जिसमें कम tan डेल्टा बेहतर इन्सुलेशन गुणवत्ता और कम हानि का संकेत देता है।
प्रश्न: आप क्षय गुणांक को कैसे मापते हैं?
ए: अपव्यय कारक (टैन डेल्टा) को मापने के लिए:
1. सेटअप:
इंसुलेशन पर एसी वोल्टेज लगाएं।
- धारा (I) और वोल्टेज (V) को मापें।
2. कला कोण (δ) की गणना करें:
आर्कटेंजेंट का उपयोग करके कला कोण (δ) निर्धारित करें।
3. अपव्यय गुणांक (tanδ) की गणना करें:
-टैन्जेंट का प्रयोग करें: tanδ= sinδ/cosδ.
4. व्याख्या:
-कम टैन डेल्टा बेहतर इन्सुलेशन का संकेत देता है।
-निर्धारित सीमाओं से तुलना करें।
इस प्रक्रिया में विद्युत उपकरणों के इन्सुलेशन का मूल्यांकन करने के लिए विशेष टैन डेल्टा परीक्षण सेट का उपयोग किया जाता है।
